綜合薄膜測量軟件 參考價：面議
綜合薄膜測量軟件集成的色散模型用于描述所有常用材料的光學(xué)特性。利用快速擬合算法，通過改變模型參數(shù)將計算得到的光譜調(diào)整到實測光譜。
臺式薄膜探針反射儀 參考價：面議
臺式薄膜探針反射儀二十年來，SENTECH已經(jīng)成功地銷售了用于各種應(yīng)用的薄膜厚度探針FTPadv。這種臺式反射儀的特點是不管在低溫或高溫下，在工業(yè)或研發(fā)環(huán)境中，...
反射膜厚儀 參考價：面議
反射膜厚儀我們的反射儀的特點是通過樣品的高度和傾斜調(diào)整進行準(zhǔn)確的單光束反射率測量，光學(xué)布局的高光導(dǎo)允許對n和k進行重復(fù)測量，對粗糙表面進行測量以及對非常薄的薄膜...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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